芯合电子申请减少平面MOSFET栅漏寄生电容专利通过在栅极与漏极的接触填充金属之间引入空气隙以减少Cgd
类别:检验设备
国家知识产权局信息显示,芯合电子(上海)有限公司申请一项名为“一种减少平面MOSFET栅漏寄生电容的制备方法及器件”的专利,公开号CN121215610A,申请日期为2025年9月。
专利摘要显示,本申请提供了一种减少平面MOSFET栅漏寄生电容的制备方法及器件,具体通过在栅极与漏极的接触填充金属之间引入空气隙以减少Cgd。
天眼查资料显示,芯合电子(上海)有限公司,成立于2018年,位于上海市,是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本1610.5263万人民币。通过天眼查大数据分析,芯合电子(上海)有限公司共对外投资了10家企业,财产线条,此外企业还拥有行政许可1个。
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